SWT-NEOⅡ/NEOⅢ 雙型薄膜厚度計
高效能探頭（具備探頭相容性、記憶體、統計運算和資料傳輸等功能）
需另外購買。 （探頭與SWT-9000系列及更早型號不相容。）
可根據測量應用選擇合適的連接探頭。
液晶螢幕上會顯示操作說明指南。
大容量測量記憶體（NEOⅡ：20,000 點，NEOⅢ：40,000 點）。
透過註冊校準曲線輕鬆回憶測量結果
具有上下限設定和內建統計計算功能。
資料可以透過USB連線傳輸到電腦。
內建低功耗無線輸出（NEO-III）。
傾斜支架
噴漆/襯裡/電鍍
絕緣塗層，例如陽極氧化鋁
| 測量範圍 | 體情況取決於連接探針（需另行購買） |
| 顯示方法 | 圖形液晶顯示器 |
| 校準曲線校準 | 兩點校準官員 |
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校正曲線記憶
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NEO-II：10瓶； NEO-III：100瓶 |
| 測量記憶體 | NEO-Ⅱ：20,000 分； NEO-Ⅲ：40,000 分 |
| 資料傳輸 | USB，專用低功耗無線電（NEO-III） |
| 電源 | 2顆AA鹼性電池（1.5V） 連續使用時間（25小時*） 附自動關機功能的 交流電源供應器 *最大值（可能因使用情況而異。 |
| 工作溫度 | 0-40°C（無冷凝） |
| 尺寸 | 72（寬）×30（高）×156（深）毫米 |
| 重量 | 約200公克（含電池） |
| 配件 | 乾電池、硬式便攜箱、手帶、保固卡/用戶註冊表、使用 說明書（包含在驅動光碟中）、交流電源供應器、USB傳輸線、驅動光碟 |
| 探測 | 請根據被測基材進行選擇。 |
| 選項 | 用於鐵基片 (SFe) 、非鐵基片 (SNFe) 以及鐵基片和非鐵基片 (SFN-325)的探針 列印單元 (SWT-NEOⅢ) 。 |